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偏光顯微鏡
光薄片掃描電鏡
sjdy-M2礦物激光掃描偏光顯微鏡




產(chǎn)品簡介
可實現(xiàn)礦物自動掃描與識別分析的偏光顯微鏡,礦物識別與成分測定,礦物自動掃描成像,一臺機器多種功能用途,一個價格比肩多個設(shè)備
產(chǎn)品分類
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以可靠的、可重復(fù)的方式通過透射光和 反射光創(chuàng)建高質(zhì)量的數(shù)字化巖相分析數(shù)據(jù)。這款專為巖相分析而設(shè)計, 結(jié)合了速度快的電動偏光采集模式,和集可視化、分析、協(xié)作為一體的多 樣軟件生態(tài)系統(tǒng)。全自動采集與我司質(zhì)量相結(jié)合,即使在處理數(shù)百個或數(shù)千 個樣品時也可以確保始終如一的高圖像質(zhì)量。電動單偏光和正交偏光可以分 析多色性和雙折射,而圓偏光可以不受晶粒取向影響,快速評估最大雙折射 特征。 軟件生態(tài)系統(tǒng)中,數(shù)據(jù)可以無縫集成到復(fù)雜的數(shù)字分析工作流程中,可以在易于使用且直觀的環(huán)境中對復(fù)雜的多通道偏 光數(shù)據(jù)進行可視化和查詢; 可以基于強大的機器學(xué)習(xí)識別相位, 可以在分類圖像上進行最佳測量,從而對礦物信息、晶粒 大小和礦物分布進行定量測量。
數(shù)字化巖相分析顯微鏡:對復(fù)雜的數(shù)字化巖相數(shù)據(jù)進行可視化
管理構(gòu)成大規(guī)模巖相薄片掃描的多通道圖像,需要專門的可視化解決方案。使用全新的可直觀地瀏覽豐富的數(shù)據(jù)集,這一方法超越了標準的巖相分析顯微鏡。每個完整 的 版本都可用,它讓您能夠選擇要顯示哪種觀察方式(明場、單偏光、正交偏光、圓偏 光和熒光),并能夠在可用的偏光角中同步移動。它甚至?xí)詣油綀D像旋轉(zhuǎn),從而使樣品 與傳統(tǒng)巖相分析光學(xué)顯微鏡中所顯示的一模一樣,促進實驗室和在線教學(xué)環(huán)境中的學(xué)習(xí)過程, 創(chuàng)造出一個沉浸式的巖相體驗。
地質(zhì)教學(xué)和研究需要全球合作。通過混合 型學(xué)習(xí),能夠遠程訪問教學(xué)資料,這增強 了傳統(tǒng)的教學(xué)方式,可以更容易更完整地 吸收復(fù)雜的想法。對于分布式研究小組或 資產(chǎn)團隊來說,通過數(shù)字界面與數(shù)據(jù)進行 互動的能力是不可少的,這樣才可以始 終無縫地分發(fā)和訪問數(shù)據(jù)。直接從該在線 門戶下載數(shù)據(jù),以享受 任何許可 版本 提供的豐富功能。
圖像分析
從光學(xué)顯微鏡數(shù)據(jù)集中提取定量信息的傳統(tǒng)方法(即計點法)極為耗時,而且將可提取的數(shù) 據(jù)限制在簡單的模態(tài)礦物分析和結(jié)構(gòu)定性分析中。未來結(jié)合先進機器學(xué)習(xí)技術(shù)可以直接 從光學(xué)顯微鏡圖像中將礦物分類。將訓(xùn)練好的模型集成到自動圖像分析程序中,從而可以自 動測量和報告礦物、孔隙以及晶粒的大小。 模型一旦訓(xùn)練完成,便可以應(yīng)用于類似種類或批次的多個樣本。這樣便可以對樣品礦物和結(jié) 構(gòu)的分布變化進行定量評估,例如通過一系列拓展巖心切片或視野橫切片。
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